专利

专利名称：一种高精度电压检测电路及方法
专利号：PCT/CN2013/085583
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2013-10-21
专利名称：一种具有电流补偿的带隙基准电路
专利号：201310714141.5
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2013-12-20
专利名称：一种直通型高压数据传输接口电路
专利号：201310686813.6
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2013-12-13
专利名称：一种电池监测芯片的低功耗控制方法及系统
专利号：201310717584.X
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2013-12-23
专利名称：一种ESD保护器件及适用于电池管理芯片的ESD电路
专利号：201310733250.1
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2013-12-26
专利名称：一种基于SCR的集成电路静电保护器件
专利号：201210524550.4
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2012-12-07
专利名称： 一种获得IGBT器件热阻的系统和方法
专利号：201210525856.1
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2012-12-07
专利名称：一种测量双极性器件峰值结温分布的方法
专利号：201210525358.7
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2012-12-07
专利名称：一种测量MOSFET器件峰值结温分布的方法
专利号：201210524530.7
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2012-12-07
专利名称：一种IGBT结壳热阻的测量方法
专利号：201210514961.5
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2012-12-04
专利名称：一种半导体器件的结温测试方法
专利号：PCT/CN2013/090423
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2013-12-25
专利名称：一种低噪声压控振荡器
专利号：PCT/CN2013/072426
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2013-03-12
专利名称：一种Sigma-Delta调制器及模数转换器
专利号：PCT/CN2013/071961
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2013-02-28
专利名称：标准单元库模型的时序验证方法
专利号：201110456664.5
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2011-12-30
专利名称：一种射频接收机
专利号：201110226124.8
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2011-08-08
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