专利
专利名称：SEMICONDUCTOR STRUCTURE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
专利号：13/988,192
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2013-05-17
专利名称：METHOD FOR LINE WIDTH MEASUREMENT
专利号：13/381,074
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2011-12-27
专利名称：WELL REGION FORMATION METHOD AND SEMICONDUCTOR BASE
专利号：13/381,636
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2011-12-29
专利名称：EMBEDDED SOURCE/DRAIN MOS TRANSISTOR AND METHOD FOR FORMING THE SAME
专利号：13/380,828
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2011-12-24
专利名称：FIN FIELD-EFFECT TRANSISTOR AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
专利号：13/377,141
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2011-12-08
专利名称：SEMICONDUCTOR DEVICE STRUCTURE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
专利号：13/380,975
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2011-12-27
专利名称：MOSFET AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
专利号：13/379,433
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2011-12-20
专利名称：SEMICONDUCTOR STRUCTURE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
专利号：13/380,964
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2011-12-27
专利名称：SEMICONDUCTOR STRUCTURE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
专利号：13380707
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2011-12-23
专利名称：METHOD FOR MANUFACTURING FIN FIELD-EFFECT TRANSISTOR
专利号：13/375,976
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2011-12-02
专利名称：SEMICONDUCTOR STRUCTURE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
专利号：13/380,723
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2011-12-23
专利名称：SEMICONDUCTOR STRUCTURE AND METHOD
FOR MANUFACTURING THE SAME
专利号：13/380,666
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2011-12-23
专利名称：Semiconductor Device and Manufacturing Method thereof
专利号：13/376，237
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2011-12-05
专利名称：SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
专利号：13/376,247
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2011-12-05
专利名称：Semiconductor Device and Manufacturing Method thereof
专利号：13/320,581
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2011-11-15
