专利

专利名称：位置可调的光栅尺安装装置
专利号：201410576969.3
专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
时间：2014-10-24
专利名称：可接长的光栅尺安装工具
专利号：201410576995.6
专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
时间：2014-10-24
专利名称：用于45度平面镜面形检测的子孔径拼接测量装置与方法
专利号：201410422479.8
专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
时间：2014-08-26
专利名称：基于GPU并行计算小波变换的光学条纹图相位提取方法
专利号：201410229216.5
专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
时间：2014-05-28
专利名称：基于双波长光源的轴锥镜锥角检测装置与方法
专利号：201410219304.7
专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
时间：2014-05-22
专利名称：光电二极管前置放大电路
专利号：201410206833.3
专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
时间：2014-05-16
专利名称：轴锥镜锥角检测装置及其检测方法
专利号：201410109974.3
专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
时间：2014-03-24
专利名称：位移台通用运动控制系统
专利号：201410081753.X
专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
时间：2014-03-07
专利名称：旋转晶体平板的移相剪切干涉仪
专利号：201310346677.6
专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
时间：2013-08-09
专利名称：双平板偏振移相剪切干涉仪
专利号：201310346686.5
专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
时间：2013-08-09
专利名称：轴锥镜锥角的检测装置和检测方法
专利号：201310198924.2
专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
时间：2013-05-24
专利名称：轴锥镜面形和锥角的检测方法
专利号：201310180723.X
专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
时间：2013-05-16
专利名称：空间移相横向剪切干涉仪
专利号：201310167236.X
专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
时间：2013-05-08
专利名称：双折射实时测量装置和测量方法
专利号：201210563666.9
专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
时间：2012-12-21
专利名称：正弦相位调整器峰值延迟量的标定装置和标定方法
专利号：201210506361.4
专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
时间：2012-11-30
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