专利
专利名称：偏振检测装置器件误差的校正方法
专利号：201210396106.9
专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
时间：2012-10-17
专利名称：平面光学元件面形的检测方法
专利号：201210289617.0
专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
时间：2012-08-15
专利名称：光束斯托克斯参量测量装置及测量方法
专利号：201210169524.4
专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
时间：2012-05-28
专利名称：全光场偏振像差检测装置及检测方法
专利号：201210091180.X
专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
时间：2012-03-31
专利名称：全光场全斯托克斯参量检测装置和检测方法
专利号：201210015266.4
专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
时间：2012-01-18
专利名称：光学元件旋转定位夹具及旋转定位方法
专利号：201110391297.5
专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
时间：2011-11-30
专利名称：消杂光双光路光学定中仪
专利号：GB1617404.7
专利名称：一种全景镜头的双功能镜头盖
专利号：201120542607.4
专利名称：一种检测UV胶水固化过程动态光学特性的方法
专利号：201410212899.3
专利名称：一种基于渐变波导的石墨烯可饱和吸收体及其制备方法
专利号：201310677741.9
专利名称：一种基于双焦镜的非接触透镜中心厚测量装置
专利号：201410383553.X
专利名称：晶圆级电子封装器件焊点初始破坏恶化的评估方法
专利号：201310293470.7
专利名称：一种光电观瞄系统
专利号：201310175482.X
专利名称：一种应用自由曲面分色片进行像差补偿的分色方法
专利号：201310185257.4
专利名称：一种组分可控的ZrOx薄膜的制备方法
专利号：201210374157.1
