专利

专利名称：一种基于多项式预测模型的多普勒频率和相位估计方法
专利号：201010023063.0
专利权人：上海华岭集成电路技术有限责任公司
时间：2012-09-25
专利名称：多链路自适应的数据传输方法与系统
专利号：201110001507.5
专利权人：上海华岭集成电路技术有限责任公司
时间：2012-09-25
专利名称：多基准电压发生电路
专利号：201010186670.9
专利权人：上海华岭集成电路技术有限责任公司
时间：2012-09-25
专利名称：片上金属氧化物半导体场效应管电流检测方法结构及开关电源
专利号：201010186655.4
专利权人：上海华岭集成电路技术有限责任公司
时间：2012-09-25
专利名称：片上功率管电流检测电路
专利号：201110417589.1
专利权人：上海华岭集成电路技术有限责任公司
时间：2012-09-25
专利名称：电流检测电路
专利号：201110079639.X
专利权人：上海华岭集成电路技术有限责任公司
时间：2012-09-25
专利名称：测试载片台
专利号：201110137967.0
专利权人：上海华岭集成电路技术有限责任公司
时间：2012-09-25
专利名称：探针测试实时监控系统
专利号：201010600397.X
专利权人：上海华岭集成电路技术有限责任公司
时间：2012-09-25
专利名称：信号发生器
专利号：201010543345.3
专利权人：上海华岭集成电路技术有限责任公司
时间：2012-09-25
专利名称：源复用测试方法
专利号：201110127116.8
专利权人：上海华岭集成电路技术有限责任公司
时间：2012-09-25
专利名称：具有物理隔离特征的测试装置
专利号：201110127105.X
专利权人：上海华岭集成电路技术有限责任公司
时间：2012-09-25
专利名称：高速通信总线芯片端口特性测试方法
专利号：201110127102.6
专利权人：上海华岭集成电路技术有限责任公司
时间：2012-09-25
专利名称：实时监控探针测试利用率的方法
专利号：201010600189.X
专利权人：上海华岭集成电路技术有限责任公司
时间：2012-09-25
专利名称：特殊封装芯片的测试系统
专利号：201010571438.7
专利权人：上海华岭集成电路技术有限责任公司
时间：2012-09-25
专利名称：特殊封装芯片的测试方法
专利号：201010571098.8
专利权人：上海华岭集成电路技术有限责任公司
时间：2012-09-25
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