专利
专利名称：一种旋转轴对称曲面面形误差的测量装置及测量方法
专利号：201610891212
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2016-10-12
专利名称：非球面补偿器透射波前方程的测量装置和方法
专利号：201610886907
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2016-10-11
专利名称：一种旋转轴对称曲面面形误差的测量装置及测量方法
专利号：PCT/CN2016/101894
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2016-10-12
专利名称：非球面补偿器透射波前方程的测量装置和方法
专利号：PCT/CN2016/101770
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2016-10-11
专利名称：一种可标定系统误差的系统波像差检测方法
专利号：201610880581
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2016-10-09
专利名称：一种可标定系统误差的系统波像差检测方法
专利号：PCT/CN2016/101556
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2016-10-09
专利名称：一种六面体垂直误差测量装置及方法
专利号：201610726697
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2016-08-19
专利名称：非球面补偿镜的设计和装配方法
专利号：201610709909
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2016-08-18
专利名称：一种用于光学检测的干涉仪标准具
专利号：201610652164
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2016-08-17
专利名称：光学元件疵病检测中显微成像景深延拓的方法和系统
专利号：201610634088
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2016-08-15
专利名称：一种白光干涉仪待测量工件自动定位方法及装置
专利号：201610633671
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2016-08-13
专利名称：一种白光干涉仪干涉条纹调整方法
专利号：201610633567
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2016-08-12
专利名称：一种光学元件表面缺陷检测装置
专利号：201610633720
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2016-08-10
专利名称：一种计算光学平板三点支撑下自重形变的方法及装置
专利号：201610633533
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2016-08-09
专利名称：一种去除拼接检测中支撑的方法及装置
专利号：201610633590
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2016-08-08