专利

专利名称：一种显微成像景深延拓的方法及显微成像装置
专利号：201610633729
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2016-08-07
专利名称：一种显微成像景深延拓的方法及显微成像装置
专利号：201610634091
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2016-08-06
专利名称：一种子孔径拼接非球面干涉仪
专利号：201610633716
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2016-08-05
专利名称：一种光学元件表面质量检测镜头
专利号：201610511946
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2016-08-04
专利名称：干涉仪系统、干涉仪传递函数及性能优劣的检测方法
专利号：201610463671
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2016-06-23
专利名称：平面光学元件表面疵病的检测装置及其检测方法
专利号：201610463644
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2016-06-23
专利名称：球面光学元件表面疵病的检测装置及其检测方法
专利号：201610463461
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2016-06-23
专利名称：一种用于膜厚测量的定位装置
专利号：201610205408
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2016-04-01
专利名称：一种旋转对称未知非球面面形误差的测量方法及其测量装置
专利号：201510975112
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2015-12-23
专利名称：一种转台摆角精密测量方法
专利号：201510974370
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2015-12-23
专利名称：一种压电驱动的光学移相装置
专利号：201510967463.X　
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2015-12-22
专利名称：深紫外投影光刻物镜的纳米级光学元件面形检测支撑工装
专利号：201510962304
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2015-12-21
专利名称：采用变形镜的拼接干涉检测非球面面形的装置及方法
专利号：201510922163.X　
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2015-12-14
专利名称：一种大口径光学元件卧式电磁支撑装置
专利号：201510865983.X　
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2015-12-01
专利名称：一种非球面方程的测量方法
专利号：201510865940
专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
时间：2015-12-01
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