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专利
专利名称:
一种全自动光学元件偏心测量系统
专利号:
CN201410097979.9
专利权人:中国科学院光电技术研究所
时间:2014-03-17
专利名称:
一种装卡光学元件的力反馈精密支撑装置
专利号:
CN201410135683.1
专利权人:中国科学院光电技术研究所
时间:2014-04-04
专利名称:
基于盲孔法的残余应力测试定位装置
专利号:
CN201310325084.1
专利权人:中国科学院光电技术研究所
时间:2013-07-30
专利名称:
一种光学元件自重变形量的测定方法
专利号:
CN201310495022.5
专利权人:中国科学院光电技术研究所
时间:2013-10-21
专利名称:
一种光学元件表面高频震动共形加工方法和装置
专利号:
CN201310473603.9
专利权人:中国科学院光电技术研究所
时间:2013-10-11
专利名称:
一种光学表面中高频误差抑制的离子束牺牲层加工方法
专利号:
CN201310275909.3
专利权人:中国科学院光电技术研究所
时间:2013-10-11
专利名称:
一种磁流变高精度定位装置及磁流变去除函数转换方法
专利号:
CN201310377414.1
专利权人:中国科学院光电技术研究所
时间:2013-08-26
专利名称:
一种对准方法
专利号:
CN201310284506.5
专利权人:中国科学院光电技术研究所
时间:2013-07-08
专利名称:
一种光学面形数据旋转中心、旋转角度和平移量分析方法
专利号:
CN201310279797.9
专利权人:中国科学院光电技术研究所
时间:2013-07-05
专利名称:
一种球面面形误差绝对检测方法
专利号:
CN201310259595.8
专利权人:中国科学院光电技术研究所
时间:2013-06-26
专利名称:
一种z-θx-θy三自由度纳米精度两体式工作台
专利号:
CN201210532644.6
专利权人:中国科学院光电技术研究所
时间:2012-12-12
专利名称:
z-θx-θy三自由度高同轴度抗弯扭矩纳米级精度工作台
专利号:
CN201210331240.0
专利权人:中国科学院光电技术研究所
时间:2012-09-10
专利名称:
一种z-θx-θy三自由度抗弯矩高精度工作台
专利号:
CN201210331302.8
专利权人:中国科学院光电技术研究所
时间:2012-09-10
专利名称:
一种折反式逆补偿器
专利号:
CN201110324192.8
专利权人:中国科学院光电技术研究所
时间:2011-10-21
专利名称:
一种通过使用通用串口技术使电子设备组网级联的方法
专利号:
CN201110383381.2
专利权人:中国科学院光电技术研究所
时间:2011-11-25
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