专利
专利名称：Semiconductor Device and Method of Manufacturing THE SAME
专利号：13/061,879
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2011-03-02
专利名称：SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
专利号：13/063,733
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2011-03-11
专利名称：SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
专利号：13/061,655
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2011-03-01
专利名称：SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD of MANUFACTURING the same
专利号：13/059,092
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2011-02-15
专利名称：Manufacturing Method of Gate Stack and Semiconductor Device
专利号：12/997,625
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2010-12-13
专利名称：Method of Manufacturing a Semiconductor Device
专利号：13/061,774
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2011-03-02
专利名称：Transistor And Manufacturing Method Of The Same
专利号：12/937,502
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2010-10-12
专利名称：SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME
专利号：12/991,012
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2010-11-04
专利名称：Semiconductor Device
专利号：13/061,555
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2011-03-01
专利名称：CMOSFET DEVICE WITH CONTROLLED THRESHOLD VOLTAGE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME
专利号：12/937,444
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2010-10-12
专利名称：High-performance Semiconductor Device and
专利号：12/996,809
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2010-12-08
专利名称：Method of manufacturing a High-performance Semiconductor Device
专利号：12/922,391
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2010-09-13
专利名称：CMOSFET DEVICE WITH CONTROLLED THRESHOLD VOLTAGE CHARACTERISTICS AND METHOD OF FABRICATING THE SAME
专利号：12/935,364
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2010-09-29
专利名称：Semiconductor Device and Method for manufacturing the Same
专利号：12/841,406
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2010-07-22
专利名称：光电探测叠层、半导体紫外探测器及其制造方法
专利号：201110164384.7
专利权人：中国科学院微电子研究所
时间：2011-06-17
