专利
专利名称：对称多核的高效一致性侦听过滤装置
专利号：201210329656.9
专利名称：一种多核处理器的JTAG调试方法
专利号：201210328478.8
专利名称：频率产生装置、方法与设备
专利号：201310240077.1
专利名称：一种锁相环电路
专利号：201310015138.4
专利名称：一种场效应管重叠电容的测试结构及方法
专利号：201310015035.8
专利名称：一种半导体器件中缺陷的检测结构及检测方法
专利号：201310024232.6
专利名称：可用于PID与ILD测试的测试结构及晶圆
专利号：201210530102.5
专利名称：集成电路的可靠性分析测试结构及其测试方法
专利号：201210592644.5
专利名称：静电保护结构和静电保护电路
专利号：201310106740.9
专利名称：一种电可编程熔丝结构及其制备方法
专利号：201210514582.6
专利名称：集成电路中可靠性分析的测试结构及其测试方法
专利号：201210465725.9
专利名称：半导体器件失效分析样品制作方法以及分析方法
专利号：201210485695.8
专利名称：静电保护结构和静电保护电路
专利号：201310105961.4
专利名称：测量多晶硅温度变化的方法
专利号：201210442454.5
专利名称：静电放电保护电路及其制作方法
专利号：201210530228.2
