专利

专利名称：IMD测量电路结构和IMD性能测试方法
专利号：201210398546.8
专利权人：
时间：2015-05-15
专利名称：GOI测试电路结构
专利号：201210398529.4
专利权人：
时间：2015-05-14
专利名称：一种晶体管阈值电压的测试电路
专利号：201210356131.4
专利权人：
时间：2015-05-13
专利名称：振荡器自动校准装置及其校对方法
专利号：201210526391.1
专利权人：
时间：2015-05-12
专利名称：信号接收器和信号传输设备
专利号：201210572447.7
专利权人：
时间：2015-05-11
专利名称：非易失性存储器的钳位电路
专利号：201210442460.0
专利权人：
时间：2015-05-10
专利名称：电平移位电路
专利号：201310009294.X
专利权人：
时间：2015-05-09
专利名称：集成电路中介质击穿可靠性分析的测试结构及其测试方法
专利号：201210290647.3
专利权人：
时间：2015-05-08
专利名称：一种提高电荷泵效率的方法
专利号：201210531828.0
专利权人：
时间：2015-05-07
专利名称：一种NMOS阈值电压测量方法
专利号：201210339342.7
专利权人：
时间：2015-05-06
专利名称：一种半导体器件热载流子寿命的测量方法
专利号：201210262027.9
专利权人：
时间：2015-05-05
专利名称：存储单元的修复方法和装置
专利号：201310060639.4
专利权人：
时间：2015-05-04
专利名称：SRAM的存储单元
专利号：201210398530.7
专利权人：
时间：2015-05-03
专利名称：SRAM的I/O电路
专利号：201210339320.0
专利权人：
时间：2015-05-02
专利名称：GOI_TDDB测试电路结构
专利号：201210442011.6
专利权人：
时间：2015-05-01
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