专利

专利名称：INTERCONNECT STRUCTURES AND FABRICATION METHOD THEREOF
专利号：14/671,358
专利权人：SMIC(SH)
时间：2015-03-27
专利名称：半导体器件的形成方法
专利号：201410184425.2
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-05-04
专利名称：SEMICONDUCTOR DEVICE AND FABRICATION METHOD
专利号：14/671,460
专利权人：SMIC(SH)
时间：2015-03-27
专利名称：一种纳米线器件的制作方法
专利号：201410572401.4
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-10-24
专利名称：互连结构的形成方法
专利号：201410265005.7
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-06-13
专利名称：半导体结构的形成方法
专利号：201410363912.5
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-07-28
专利名称：DRAM器件及其形成方法
专利号：201410513692.X
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-09-29
专利名称：埋入式DRAM器件及其形成方法
专利号：201410513706.8
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-09-29
专利名称：半导体结构的形成方法
专利号：201410425453.9
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-08-26
专利名称：一种碳纳米管神经元器件及其制作方法
专利号：201410856215.3
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-12-29
专利名称：晶体管及其形成方法
专利号：201510149074.6
专利权人：SMIC(SH)
时间：2015-03-31
专利名称：化学机械研磨后残留物的去除方法
专利号：201510199112.9
专利权人：SMIC(SH)
时间：2015-04-23
专利名称：用于静态随机存储器的驱动器和静态随机存储器
专利号：201210180139.X
专利权人：SMIC(SH)
时间：2012-06-04
专利名称：偏压温度不稳定性的检测电路及检测方法
专利号：201210164995.6
专利权人：SMIC(SH)
时间：2012-05-24
专利名称：静态随机存取存储器及其存储性能的改善方法
专利号：201210312975.9
专利权人：SMIC(SH)
时间：2012-08-29
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