专利
专利名称：反熔丝元件，反熔丝元件的制造方法及半导体器件
专利号：201410199530.3
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-05-12
专利名称：高电阻结构的原位温度检测装置、芯片和失效检测方法
专利号：201410478920.4
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-09-18
专利名称：用于首层金属至栅极的异常检测的层间介质测试结构
专利号：201410377113.3
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-08-01
专利名称：栅氧化层完整性测试结构及测试方法
专利号：201310654505.5
专利权人：SMIC(SH)
时间：2013-12-05
专利名称：静态随机存储器
专利号：201410409377.2
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-08-19
专利名称：电熔丝结构及半导体器件
专利号：201310582628.2
专利权人：SMIC(SH)
时间：2013-11-19
专利名称：用于栅介质完整性的测试结构及其测试方法
专利号：201310567444.9
专利权人：SMIC(SH)
时间：2013-11-14
专利名称：高电阻结构的原位温度检测装置、芯片和失效检测方法
专利号：201410487446.1
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-09-22
专利名称：电熔丝结构
专利号：201310654425.X
专利权人：SMIC(SH)
时间：2013-12-05
专利名称：一种栅氧化层完整性的测试结构及测试方法
专利号：201410217663.9
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-05-20
专利名称：肖特基二极管SPICE模型及其形成方法、应用方法
专利号：201410203971.6
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-05-14
专利名称：反熔丝结构
专利号：201320717904.7
专利权人：SMIC(BJ)
时间：2013-11-14
专利名称：一种MOM电容结构
专利号：201320804612.7
专利权人：SMIC(BJ)
时间：2013-12-09
专利名称：一种半导体器件的制造方法
专利号：201410101098.X
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-03-18
专利名称：一种可靠性测试结构的保护电路及保护方法
专利号：201410053565.6
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-02-17