专利
专利名称：一种反熔丝结构
专利号：201310335568.4
专利权人：SMIC(SH)
时间：2013-08-02
专利名称：一种反熔丝结构
专利号：201310410836.4
专利权人：SMIC(SH)
时间：2013-09-10
专利名称：一种半导体器件的检测结构
专利号：201310410804.4
专利权人：SMIC(SH)
时间：2013-09-10
专利名称：一种金属熔丝结构
专利号：201310471662.2
专利权人：SMIC(SH)
时间：2013-10-10
专利名称：检测结构及其形成方法、检测方法
专利号：201310398726.0
专利权人：SMIC(SH)
时间：2013-09-04
专利名称：一种半导体器件
专利号：201310398727.5
专利权人：SMIC(SH)
时间：2013-09-04
专利名称：电熔丝结构及其使用方法
专利号：201310365603.7
专利权人：SMIC(SH)
时间：2013-08-20
专利名称：一种晶圆允收测试结构
专利号：201310703869.8
专利权人：SMIC(SH)
时间：2013-12-19
专利名称：一种用于测量硅化物电阻的测试结构
专利号：201310594762.4
专利权人：SMIC(SH)
时间：2013-11-21
专利名称：一种对场效应晶体管进行建模的方法及电路仿真方法
专利号：201310583177.4
专利权人：SMIC(SH)
时间：2013-11-19
专利名称：一种低触发电压和高维持电压的硅控整流器及其电路
专利号：201310693635.X
专利权人：SMIC(SH)
时间：2013-12-17
专利名称：一种反熔丝结构
专利号：201310482866.6
专利权人：SMIC(SH)
时间：2013-10-15
专利名称：SRAM单元
专利号：201310464309.1
专利权人：SMIC(SH)
时间：2013-09-30
专利名称：测试结构、测试结构的制作方法及测试方法
专利号：201410328202.9
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-07-10
专利名称：介质层缺陷的检测方法和检测装置
专利号：201410052303.8
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-02-14
