专利
专利名称：半导体隔离区制造方法
专利号：201210576890.1
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2012-12-26
专利名称：绝缘体上硅射频器件及其制造方法
专利号：201310041637.0
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2013-02-01
专利名称：电压钳位电路
专利号：201210564124.3
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2012-12-21
专利名称：互连线结构及互连线结构的形成方法
专利号：201210557309.1
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2012-12-19
专利名称：一种对晶圆表面硅晶渣进行清洗的方法
专利号：201210557559.5
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2012-12-20
专利名称：改善多晶硅耗尽的方法以及MOS晶体管
专利号：201210413667.5
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2012-10-25
专利名称：互连线结构及互连线结构的形成方法
专利号：201210556457.1
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2012-12-19
专利名称：振荡器及其自校准方法
专利号：201210559559.9
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2012-12-20
专利名称：引线焊盘以及集成电路
专利号：201310041889.3
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2013-02-01
专利名称：探针卡的预热装置
专利号：201220717605.9
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2016-08-09
专利名称：自加热效应的模型参数提取方法
专利号：201210564101.2
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2012-12-21
专利名称：检测晶圆中心线偏离的装置及方法
专利号：201210313310.X
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2012-08-29
专利名称：用于化学机械研磨的研磨垫以及化学机械研磨设备
专利号：201210261944.5
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2012-07-26
专利名称：光栅耦合器制造方法以及半导体器件装置方法
专利号：201210261727.6
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2012-07-26
专利名称：晶体管及其形成方法
专利号：201210256297.9
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2012-07-23