专利
专利名称：提高沟槽栅顶角栅氧可靠性的方法
专利号：201010518386.7
专利权人：上海宏力半导体制造有限公司
时间：2010-10-25
专利名称：机械手臂表面金属污染检测方法
专利号：201010504624.9
专利权人：上海宏力半导体制造有限公司
时间：2010-10-12
专利名称：半导体结构的形成方法及半导体结构
专利号：CN 201010217972.8
专利权人：上海宏力半导体制造有限公司
时间：2010-06-25
专利名称：MIM电容器及其制造方法
专利号：201010217934.2
专利权人：上海宏力半导体制造有限公司
时间：2010-06-23
专利名称：半导体电感器件及其制造方法
专利号：201010217925.3
专利权人：上海宏力半导体制造有限公司
时间：2010-06-23
专利名称：去耦控制电路及半导体电路
专利号：CN 201010217944.6
专利权人：上海宏力半导体制造有限公司
时间：2010-06-23
专利名称：双分离栅快闪存储器阵列的列译码电路
专利号：CN 201010217958.8
专利权人：上海宏力半导体制造有限公司
时间：2010-06-23
专利名称：双分离栅快闪存储器阵列的行译码电路及其驱动方法
专利号：CN 201010217954.X
专利权人：上海宏力半导体制造有限公司
时间：2010-06-23
专利名称：电荷泵系统及存储器
专利号：201010203962.9
专利权人：上海宏力半导体制造有限公司
时间：2010-06-09
专利名称：时钟产生电路及电荷泵系统
专利号：CN 201010203862.6
专利权人：上海宏力半导体制造有限公司
时间：2010-06-09
专利名称：闪速存储器及其读取电路
专利号：CN 201010203861.1
专利权人：上海宏力半导体制造有限公司
时间：2010-06-09
专利名称：双分离栅快闪存储陈列的编程方法
专利号：201010203952.5
专利权人：上海宏力半导体制造有限公司
时间：2010-06-09
专利名称：存储器
专利号：201010203863.0
专利权人：上海宏力半导体制造有限公司
时间：2010-06-09
专利名称：快闪存储器及其读出放大电路
专利号：CN 201010203865.X
专利权人：上海宏力半导体制造有限公司
时间：2010-06-09
专利名称：时钟产生电路和电荷泵系统
专利号：CN 201010192868.8
专利权人：上海宏力半导体制造有限公司
时间：2010-05-27