专利
专利名称：BiCMOS工艺中的垂直寄生型PNP器件及其制造方法
专利号：13/220,485
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2011-08-29
专利名称：BiCMOS工艺中的寄生PIN器件及制造方法
专利号：13/218,316
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2011-08-25
专利名称：锗硅异质结双极晶体管及制造方法
专利号：13/198,570
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2011-08-04
专利名称：一种低压差分信号传输接收器
专利号：201210207060.1
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2012-06-21
专利名称：线性均衡器
专利号：201210133324.3
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2012-04-28
专利名称：划片槽框架自动设计方法
专利号：201110309721.7
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2011-10-13
专利名称：检查保护环完整性的方法
专利号：201110361049.6
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2011-11-15
专利名称：芯片物理版图的黑盒逻辑验证方法
专利号：201110239037.6
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2011-08-19
专利名称：芯片和芯片的分离方法
专利号：201110054343.2
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2011-03-08
专利名称：电压控制变容器及其制备方法
专利号：201110021966.X
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2011-01-19
专利名称：叠封芯片的快速测试系统及方法
专利号：201110001006.7
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2011-01-05
专利名称：超高压锗硅异质结双极晶体管及其制备方法(201210187217.9)
专利号：201210187217.9
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2012-06-08
专利名称：SiGe多晶硅栅BiCMOS器件及制造方法(201210325701.3)
专利号：201210325701.3
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2012-09-06
专利名称：锗硅HBT和CMOS器件集成的制造方法和器件结构(201210170088.2)
专利号：201210170088.2
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2012-05-28
专利名称：SiGe HBT工艺中的寄生横向型PNP器件设计
专利号：201210521204.0
专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
时间：2012-12-06
