专利
专利名称：多段数码管显示驱动电路结构
专利号：201110416825.8
专利权人：无锡华润矽科微电子有限公司
时间：2011-12-13
专利名称：模拟开关电路结构
专利号：201110416325.4
专利权人：无锡华润矽科微电子有限公司
时间：2011-12-13
专利名称：具有高稳定性的能隙基准电流电路结构
专利号：201210369275.3
专利权人：无锡华润矽科微电子有限公司
时间：2012-09-27
专利名称：内置晶振的高精度数字温度补偿振荡器电路结构
专利号：201210337077.9
专利权人：无锡华润矽科微电子有限公司
时间：2012-09-12
专利名称：一种多位LED数码管的控制方法
专利号：201210290680.6
专利权人：无锡华润矽科微电子有限公司
时间：2012-08-15
专利名称：振荡器电路结构
专利号：201110456970.9
专利权人：无锡华润矽科微电子有限公司
时间：2011-12-30
专利名称：平板型只读存储器中页选择管的版图布设结构
专利号：201110453246.0
专利权人：无锡华润矽科微电子有限公司
时间：2011-12-30
专利名称：复位控制电路中的自检处理电路结构及复位控制电路装置
专利号：201110419646.X
专利权人：无锡华润矽科微电子有限公司
时间：2011-12-15
专利名称：一种在光刻胶刻蚀过程中表面演化模拟的哈希快速推进方法
专利号：PCT/CN2013/085283
专利名称：薄膜材料残余应力测试结构
专利号：PCT/CN2015/078243
专利名称：一种具有零点校准功能的热式风速传感器结构及校准方法
专利号：201510346481
专利名称：一种电-热驱动式微机电系统扭转梁疲劳强度的测试结构
专利号：201410763887
专利名称：硅材料顶层硅杨氏模量和残余应力的测试结构及测试方法
专利号：201410247627.0
专利名称：一种多晶硅薄膜残余应力的测试结构及其测试方法
专利号：201410247676.0
专利名称：绝缘衬底上的硅材料顶硅层杨氏模量的测试结构
专利号：ZL 201310184389
